技術文章
Technical articles賽默飛電感耦合等離子體光譜儀(ICP-OES和ICP-MS)
賽默飛電感耦合等離子體光譜儀是化學分析領域的重要工具,利用高溫等離子體作為光源或離子化源,能夠精確檢測樣品中的元素含量。賽默飛的ICP設備包括ICP-OES(光發(fā)射光譜儀)和ICP-MS(質譜儀),覆蓋從高通量到痕量分析的廣泛需求。
賽默飛iCAP系列ICP-OES是用于多元素分析的高效工具。它通過測量高溫等離子體中激發(fā)的原子發(fā)射的光譜,快速、精準地定量分析樣品中的元素。
高效多元素檢測
能同時檢測幾十種元素,覆蓋濃度從痕量到百分比級的范圍。
適合大批量樣品的高效處理。
動態(tài)范圍廣
寬光譜覆蓋范圍支持從痕量到高濃度元素的分析,無需頻繁稀釋樣品。
穩(wěn)定性與可靠性
固態(tài)RF發(fā)生器和優(yōu)化設計的冷卻系統(tǒng),確保長時間穩(wěn)定運行。
環(huán)保節(jié)能
優(yōu)化氬氣消耗量,比傳統(tǒng)設備減少50%以上的運行成本。
用戶友好的軟件
配備Thermo Scientific Qtegra軟件,支持自動化方法開發(fā)、數據處理和報告生成。
環(huán)境監(jiān)測:分析水、土壤、大氣中的重金屬元素,滿足EPA等法規(guī)要求。
食品安全:檢測食品中重金屬和營養(yǎng)元素。
材料科學:測定合金、陶瓷中的成分。
制藥與化工:用于藥品雜質和化工產品的元素分析。
賽默飛ICP-MS儀器如iCAP RQ和iCAP TQ,專為超痕量分析和高精度同位素測定設計,是ICP-OES的補充和升級。
高靈敏度與超低檢測限
檢測限可達ppt(萬億分之一)級,適合痕量分析。
多元素同時分析
能一次進樣同時檢測超過70種元素,極大提升實驗效率。
強大的抗干擾能力
碰撞/反應池技術(如QCell)有效消除同位素和基體干擾。
高動態(tài)范圍
能夠在極低濃度和高濃度樣品中提供準確結果,無需頻繁稀釋。
靈活進樣與自動化支持
可處理液體、固體和氣體樣品,支持無人值守的自動化運行。
痕量元素檢測:分析水、食品、藥物中的超痕量元素。
同位素比值分析:用于地質年代測定、環(huán)境研究。
核工業(yè)與材料:放射性同位素和高純材料分析。
特性 | ICP-OES | ICP-MS |
---|---|---|
靈敏度 | ppm至亞ppb級 | ppt級(超痕量分析) |
多元素分析 | 高效同時檢測 | 更快同時檢測更多元素 |
動態(tài)范圍 | 寬動態(tài)范圍 | 更高動態(tài)范圍 |
抗干擾能力 | 背景校正 | 碰撞/反應池去干擾 |
主要應用領域 | 環(huán)境、食品、制藥等 | 痕量分析、同位素分析等 |
精準可靠:賽默飛的ICP設備以高靈敏度和可靠性著稱,滿足實驗室的嚴格需求。
高效運行:多元素同步檢測和快速數據處理功能,提高實驗效率。
操作便捷:Qtegra軟件提供智能化方法開發(fā)和數據分析,降低操作難度。
節(jié)約成本:氬氣優(yōu)化設計和低耗材成本,使儀器運行經濟高效。
環(huán)境科學家:用于監(jiān)測重金屬污染和環(huán)境質量。
食品與制藥行業(yè)研究人員:保障產品安全與質量。
地質學家:用于礦物勘探和地質分析。
材料科學研究者:分析金屬、合金和高純材料。
賽默飛ICP-OES和ICP-MS光譜儀器以其性能、廣泛的應用領域和經濟高效的運行方式,成為現代實驗室中的分析工具。從痕量元素分析到高通量樣品檢測,賽默飛的ICP儀器為科研和工業(yè)提供了可靠、精準的解決方案。